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散乱・外観測定システム IS-SA™

FPD・光源・照明測定システム:Radiant 製品

散乱・外観測定システム IS-SA™

IS-SA™は、フィルム、金属、プラスチック、紙、繊維などほぼ全ての材料、および洗浄剤、研磨剤、コーティングや塗料といった表面加工のための高速かつ包括的な散乱分布関数の測定を提供します。
また、材料の特性解析および品質評価、コンピュータ モデリングやレンダリングに向けたBSDF測定のライブラリ生成といった、研究開発と製造における品質管理両方のアプリケーションで使用できるよう設計されています。
Radiant Vision Systems

散乱・外観測定システム IS-SA™

IS-SA™は、今までにない光学コンフィグレーションを活用してBSDF測定にかかる時間を劇的に短縮し、一度に2πステラジアン(半球全体)の散乱光を測定します。
 
散乱にはBRDF :反射散乱およびBTDF:透過散乱の2種類があります。BSDF:双方向散乱分布には反射散乱分布および透過散乱分布の両方が含まれます。積分球を用いた散乱測定と比較すると、IS-SA では、積分球を用いて参照光(メタルハライドランプまたはハロゲンランプ)を材質に照射し、BRDF/BTDFや材質特性を評価します。外光の影響を受けることなく測定が可能であるため、材質本来の特性を解析することが出来ます。
IS-SA™には、フレキシブルな測定設定と直感的な操作をもたらす高機能なRadiant Vision Systems社製IS-SA™制御解析ソフトウェアが付属しており、アイソメトリック プロット、断面グラフ、レーダープロット、ビットマップやカラーグラフといった広範囲のデータ解析機能ならびにディスプレイ機能もご利用可能です。
 
オプションには、その他BTDF(透過)測定用のTransmission Armアタッチメントおよび材料サンプルを自動で動かし回転させるゴニオメトリック ポジショニング システムがあります。
 
IS-SA™ユーザーは、ソフトウェアのオプションによりディスプレイの視野角の性能測定や、小さな光源の配光測定を行うことが可能です。ソフトウェアを追加することで、イメージング色彩輝度計IS-SA™ ProMetric®を他のアプリケーション用に単独で使用することができます。

主な仕様

 
光学仕様
CCD タイプ
フルフレーム, 電子冷却付CCD
CCD ビット値
16-bit (65,536:1) ダイナミックレンジ
CCD解像度
512x512 または 1024x1024 ピクセル CCD オプション
視野
2π ステラジアン
色測定
CIE 1931 適合 XYZ フィルター(明所視のみとスペクトルオプションも可)
減光フィルター
ND 0, 1, 2 標準
標準照明角度
連続 80°
光源
金属ハロゲン化物、ハロゲン
感度
反射率 5%以下
システム精度
BRDF: ±5%
 
TIR: ±5%
最短測定時間
輝度(単色): 1 sec
 
カラー   : 5 sec
機械仕様
 
寸法(WxHxD)
88cm x 66cm x 110cm
設置方向
垂直、上向き、下向き
角度分解能
0.5°
重量
120 kg
構造
イメージング積分球、イメージング色彩輝度計
最大サンプル寸法
無制限 (反射散乱測定時)
照明領域
10 mm または 20 mm
測定制御ソフトウェア仕様
測定性能:
BRDF, CCBRDF, BTDF, CCBTDF
 
TIR (積分全反射)
 
TIS (積分全散乱)、ゲイン
 
相対色: CCT; CIE x,y; u’,v’; E
IS 1.x ソフトウェア
測定セットアップ、撮像制御
 
グレースケール表示と疑似カラー表示
 
散乱と相対色の横断面
 
散乱と相対色の3次元面プロット
 
散乱と相対色のアイソメトリック プロット
 
多重キャプチャのグラフ比較と画像比較
 
光学設計プログラムとレンダリングツールへBSDFデータのエクスポート
 
TISTIRと色のレポート
 
プロセス測定 (回転、加算、引算、閾値等)

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