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Photometrica® 7.2測定、分析ソフトウェア

Photometrica® 7.2測定、分析ソフトウェア

 

Photometrica® は、使いやすいインターフェイスと強力な分析ツール、
豊富な自動化機能を兼ね備えております。

Westboro Photonicsの全ての輝度計及び色彩輝度計は、フォトメトリック画像取得から詳細な解析およびレポート作成まで、お客様のシステムを完全に制御する洗練されたPhotometrica®ソフトウェア一式を活用しています。
Photometricaソフトウェアには、空間技術およびデータ主導技術を使用して関心領域(AOI)を特定、定義、および精製するための多様で強力なツールセットが含まれています。
AOIから得られたデータは、自由に設定可能なワークスペースに集計され、測定および局所統計に関する複雑な計算が容易に実現されます。
AOIのハイライトスキームは、容易に変更可能なユーザー定義の色付き状態で各AOIを視覚的に識別し、簡単に合格/不合格を分類する事を可能にします。
Photometricaのマルチコンポーネント構造により、同じ文書内に複数の測定値を含めることができ、測定間の関係を素早くプロットまたは計算による評価をすることができます。
さらに複雑な導関数および比較測定値は、既存の測定値を含むユーザー定義の式を適用することによって実行することもできます。

カスタマイズ及び自動化

ほとんどの測定アプリケーションでは、Photometricaはラボで必要なすべての制御および分析機能を提供します。 高度な繰り返し作業、より複雑な作業、または他のデバイスとの通信を含む完全自動化されたアプリケーションの為に、Photometrica SDKは、スクリプトおよびカスタマイズ機能だけでなく、機器や計測制御のためのコア処理機能(Python、LabVIEW、MATLAB、C# 、C ++など)を提供致します。 カスタマイズには、ラベル、数値編集ボックス、スライダー、ドロップダウンメニュー、ボタン、グラフ、および表などの、幾つものコントロールを、使用するユーザー定義のウィンドウで含めることができます。 各コントロールは、スクリプトに関連付けられて、ソフトウェア内で一連のアクションを実行できます。

Westboro Photonicsのアドオンパッケージは、以下のカスタマイズソリューションを含んでおります。
  • Capture Assistant:

    任意の測定シーンタイプに対して、キャプチャースキームを最適な測定速度で生成することができます。 これにより、ユーザーの試行錯誤によらずに、最も速く正確な測定が可能になります。

  • Uniformity Spots:

    視野内の1つまたは複数のディスプレイを自動的に探し出し、ユニフォミティ計算のためにディスプレイの領域内にユーザ定義のAOIパターンを生成する事が可能になります。

  • Display Test Suite:

    視野内に1つまたは複数のディスプレイを自動的に探し出し、製造ラインで半自動又は全自動でユーザー定義のディスプレイ測定シーケンスを実行します。
    使用可能なテストには、スクラッチ/リント/ブロブ検出、画素輝点/欠点検出、MURAテストなどがあります。 ユーザーは、SDKを使用して独自の表示テストを定義することもできます。

主な特徴

  • 文字と記号の自動検出
  • ユーザ定義の数学的解析
  • マルチレイヤアー構造
  • 合格/不合格判定、多種欠陥判定
  • 埋め込みスクリプト機能
  • さまざまな座標空間サポート
    o極座標(θ、φ)、o方形角(θH、θV)、およびo線形寸法(m、cm)
  • テンプレートファイルの作成、保存、デプロイ
  • 異なるAOIの一連の測定値を同一グラフ上にデータプロット
  • 測定値全体又は選択可能レベルの特定領域における3D表面プロット
  • カスタマイズ可能なレポート作成
  • CIE 1931(xy)および1976(u'v ')色度プロット
  • オプションのソフトウェア開発キット(SDK)

測定機能

Photometrica®は、Westboro Photonicsの輝度計と色彩輝度計の両方を制御します。 ソフトウェアによって提供される標準量には、下記の通りです。

  • 輝度
  • 照度
  • 光度
  • 全光束
  • 放射輝度
  • 分光放射輝度
  • 放射照度
  • 放射強度
  • 全放射束
  • CIE色度座標(xyおよびu'v ')
  • 相関色温度(CCT)
  • 主波長
  • 純度
  • ΔE
  • コントラスト
  • ガンマ

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