• 光学設計・LED照明系設計ソフトHOME
  • 製品案内
  • アプリケーション
  • カタログ集
  • 技術サポート
  • お問い合わせ

What's New

トップページ > What's New

Loading...

What's New

光学フィルム等のテスト測定を行っております(ネプコンジャパン-第36回 エレクトロテスト ジャパン-)

2019/01/16

本日より【ネプコンジャパン-第36回 エレクトロテスト ジャパン-】に出展しております。(弊社小間番号:E18-11)
弊社ブースにて、マルチチャンネル分光型偏光解析システムのデモを行っております。
フィルムなどのサンプルをお持ちいただければ、その場でテスト測定することも可能です。是非お立ち寄りください!
 
○展示会概要○
 
・開催展名:ネプコンジャパン-第36回 エレクトロテスト ジャパン -
・会期:2019 年1 月16 日(水) - 18 日(金)10:00-18:00(最終日のみ17:00まで)
・場所:東京ビッグサイト
・弊社ブース番号:E18-11
・オフィシャルHP:http://www.electrotest.jp/ja-jp.html
※下記URLより会場案内図をご覧いただけます。
 事前に弊社ブース位置をご確認ください。:http://www.electrotest.jp/ja-jp/visit/map.html
 
 
e-チケットは下記のURLからダウンロードいただけます。
プリントアウトし、会場までお名刺二枚と一緒にご持参ください。:
 
※ご入場には招待券がお1人につき1枚必要です。
 

一覧へ戻る

  • 製品案内
  • アプリケーション別製品検索
  • 技術サポート
  • FAQ
  • セミナー案内
  • 会社概要
  • ISO認証取得

ページの先頭へ