ネプコンジャパン-第36回 エレクトロテスト ジャパン- 出展のお知らせ|プロリンクス

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ネプコンジャパン-第36回 エレクトロテスト ジャパン- 出展のお知らせ

株式会社プロリンクスは、1月16日(水)~1月18日(金)東京ビッグサイトで開催される
【ネプコンジャパン-第36回 エレクトロテスト ジャパン-】に出展いたします。(弊社小間番号:E18-11)
 
2次元色彩輝度計をはじめ、測定に関わる様々な製品をご紹介予定です。
出展製品は新製品・新技術も多数取り揃えております。
 
<出展の見どころ>
 
【Westboro Photonics社:2次元色彩輝度計…解像度12Mピクセル、高速測定】
 
2次元色彩輝度計(WPシリーズ)は最大12Mピクセルのラインナップ。
R&Dや生産環境において高精度、高信頼性の要求に対応する事を構築する機器です。
フラットパネルディスプレイ、バックライトキーボード、車載パネルグラフィックスの
ピクセルレベル測定を、高速、高信頼性で測定する事が可能です。
また、2次元輝度計(Smartシリーズ)は最大12.3Mピクセルまでラインナップがあり、
最新のソニー製CMOSセンサーを使用した、高度なデジタルイメージセンサーを基にしております。
コンパクト、ポータブル、軽量で、比類のない性能を発揮いたします。
デモ機の出展もしております。
 
 
【Admesy社:レーザー光の色彩輝度測定・光源の色彩輝度/フリッカ/応答性測定】
 
小型ディスプレイ専用、最大16Mピクセル2次元色彩輝度測定器『Atlas(アトラス)』。
第3世代目となるAtlasは、複数のディスプレイのムラ測定メニューを標準搭載しております。
CMOSセンサ採用により測定時間はCCDセンサモデルと比較して大幅に短縮されております。
必要な機能のカスタマイズは柔軟に対応出来ます。デモ機も出展いたします。
 
フリッカや応答時間、ガンマ測定、分光測定をお探しの方必見の
スポット輝度計『Asteria』、色彩輝度計『MSE』/『Hyperion』、分光器『Hera』も出展します。
 
 
【シンテック社:マルチチャンネル分光型偏光解析システムOPTIPRO-MCS】
 
先代のOPTIPROを前面改良して昨年リリースした解析システムです。
フィルム等の位相差や偏光パラメータ、分光測定を1台でこなします。
 
透過率測定や、視野角測定なども出来るため、光学フィルムの測定では重宝いただける装置です。
デモ機を展示いたしますので、実際の稼働状態をご覧いただくことが出来ます。
 
 
出展情報は下記URL先からもご覧いただけます。:
 
 
○展示会概要○
 
・開催展名:ネプコンジャパン-第36回 エレクトロテスト ジャパン -
・会期:2019 年1 月16 日(水) - 18 日(金)10:00-18:00(最終日のみ17:00まで)
・場所:東京ビッグサイト
・弊社ブース番号:E18-11
・オフィシャルHP:http://www.electrotest.jp/ja-jp.html
 
※下記URLより会場案内図をご覧いただけます。
 事前に弊社ブース位置をご確認ください。:http://www.electrotest.jp/ja-jp/visit/map.html
 
 
 
e-チケットは下記のURLからダウンロードいただけます。
プリントアウトし、会場までお名刺二枚と一緒にご持参ください。:
 
※ご入場には招待券がお1人につき1枚必要です。
 
 
何かご質問等ございましたらお気軽にお問合せくださいませ。
皆様のご来場をお待ちしております。

2018.12.26